Меры длины штриховые Классификатор средств измерений по МИ
Для калибровки и поверки просвечивающих и растровых электронных микроскопов, применяемых в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, металлургии, геологии, биологии, медицине, а также в лабораториях промышленных предприятий,...
Для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
Для поверки КИП органами государственных и ведомственных метрологических служб
Разрешена установочная серия
5045-75
МС38-01-а Меры длины образцовые штриховые
НПО "Экспериментальный НИИ металлорежущих станков" (ЭНИМС), г.Москва
Разрешен серийный выпуск до 01.01.1981