Меры периодические Классификатор средств измерений по МИ

Системы оптические измерений шероховатости SORM 3plus (далее - системы) предназначены для измерений параметров шероховатости движущихся на больших скоростях полос проката (металлических, неметаллических, необработанных и с высококачественным покрыт...

Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-3 (далее ╞ мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне от 0,2·10-6 до 0,002 м и применяется при калибровке перемещений столика объектов ра...

Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-4 (далее ╞ мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне от 0,5·10-6 до 0,005 м и применяется при калибровке перемещений столика объектов ра...

Мера рельефная нанометрового диапазона с периодическим массивом нанообъектов ПМН-1 (далее ╞ мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне от 0,2·10-6 до 10-4 м и применяется при калибровке перемещений столика объектов растрового...

Для хранения единицы длины в нанометровом диапазоне для ее передачи микроскопам электронным растровым и другим средствам измерений малой длины, применяемым в сфере нанотехнологий.

Для хранения единицы длины для ее передачи микроскопам электронным растровым и другим средствам измерений малой длины, применяемым в сфере нанотехнологий.

Для хранения единицы длины для ее передачи микроскопам электронным просвечивающим и другим средствам измерений малой длины.

Для передачи размера единицы длины в области измерений параметров шероховатости Ra, Rz, R и RSm в диапазоне 10^(-8)...10^(-4) м и поверки (калибровки) приборов для измерений параметров шероховатости и профиля поверхности, а также оптических, электрон...

Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4)м и поверки (калибровки) оптических, оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, а также других микроскопов и средств измерений...

Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-8) м. Применяется для поверки и калибровки микроскопов электронных просвечивающих

Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-8)...10^(-5) м. Применяется для поверки и калибровки высокоточных микроскопов электронных просвечивающих и других средств измерений малой длины.

Для передачи размера единицы длины в диапазоне 100 мкм...1 нм и поверки (калибровки) измерительных электронных микроскопов, предназначенных для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин). Область...

Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...

Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовы...

Относятся к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-4) м и поверки (калибровки) растровых электронных, атомно-силовых микроскопов и других средств измерений малой длин...