ALL-Pribors: Классификатор средств измерений по МИ - Микроскопы сканирующие зондовые

Микроскопы сканирующие зондовые Классификатор средств измерений по МИ

48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
46918-11
СММ-2000 Микроскопы сканирующие зондовые
ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва
Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
41675-09
НаноСкан-3Д Микроскопы сканирующие зондовые
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...
Default ALL-Pribors Device Photo
41675-09
НаноСкан-3Д Микроскопы сканирующие зондовые
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...
Default ALL-Pribors Device Photo
41675-09
НаноСкан-3Д Микроскопы сканирующие зондовые
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...
Default ALL-Pribors Device Photo
40597-09
SOLVER NEXT Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
39221-08
СмартСПМ-1000 Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "АИСТ-НТ", г. Москва, Зеленоград
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.
Default ALL-Pribors Device Photo
39221-08
СмартСПМ-1000 Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "АИСТ-НТ", г. Москва, Зеленоград
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
34310-07
ФемтоСкан Микроскопы сканирующие зондовые
ООО НПП "Центр перспективных технологий", г.Москва
Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изу...
34310-07
ФемтоСкан Микроскопы сканирующие зондовые
ООО НПП "Центр перспективных технологий", г.Москва
Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изу...
Default ALL-Pribors Device Photo
28666-05
Solver Pro Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...