ALL-Pribors: Классификатор средств измерений по МИ - СИ шероховатости, профилографы, профилометры

СИ шероховатости, профилографы, профилометры Классификатор средств измерений по МИ

33319-13
130 Профилометры
ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва, г. Зеленоград
Для измерений параметров профиля и параметров шероховатости поверхности по системе средней линии (ГОСТ 25142-82) в соответствии с диапазонами значений, предусмотренными ГОСТ 2789-73, область применения - метрологические центры, лаборатории научно-исс...
Для измерений параметров шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерений представляет прямую линию (образующие цилиндрических поверхностей; отверстия; плоские поверхности) в лабораториях промышленных предприятий различных от...
Для измерений параметров шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (образующие цилиндрических поверхностей; отверстия; плоские поверхности) или дугу окружности, область применения - цеха и лаб...
20669-12
Surtronic Duo Профилометры
Фирма "Taylor Hobson Ltd.", Великобритания
Для измерений параметров шероховатости поверхности изделий, сечение которых в плоскости измерения представляют прямую линию. Область применения - цеха промышленных предприятий.
48173-11
Alpha-Step 200 Профилометр
Фирма "KLA-Tencor Corporation", США
Для измерения профиля поверхности в микро- и нанодиапазоне.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
48168-11
TALYSURF CCI Профилометры оптические
Фирма "Taylor Hobson Ltd.", Великобритания
Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 0,3...100 % бесконтактным методом.
30381-11
178 Приборы для измерений параметров шероховатости
ФГУП "НИИ мостов и дефектоскопии", г.С.-Петербург
Для измерений параметров шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (образующие цилиндрических поверхностей; отверстия; плоские поверхности) или дугу окружности, область применения - цеха и лаб...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения параметров шероховатости поверхности и распечатки результатов измерения и профилей. Позволяют проводить измерения на поверхностях изделий, сечение которых в плоскости измерения представляют прямую линию (на цилиндрических поверхностях;...
Default ALL-Pribors Device Photo
45574-10
Рефлект-1 Приборы для контроля шероховатости поверхности
ФГУП "НИТИ им.П.И.Снегирева", г.Железнодорожный
Для бесконтактного измерения параметра шероховатости Ra наружных поверхностей, коэффициент отражения которых лежит в диапазоне 0,3...0,9 и разбраковки деталей на две размерные группы. Область применения - промышленные предприятия машиностроительного...
Default ALL-Pribors Device Photo
45573-10
Рефлект-М2 Приборы для контроля шероховатости поверхности
ФГУП "НИТИ им.П.И.Снегирева", г.Железнодорожный
Для бесконтактного измерения параметра шероховатости Ra наружных поверхностей, коэффициент отражения которых лежит в диапазоне 0,3...0,9, и разбраковки деталей на три размерные группы. Область применения - промышленные предприятия машиностроительного...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для контроля морфологических параметров поверхности полупроводниковых структур. Область применения - в производственной лаборатории ФГУП "ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е. Седакова".
Default ALL-Pribors Device Photo
44935-10
TALYSTEP Прибор для измерения шероховатости поверхности
Фирма "Taylor Hobson Ltd.", Великобритания
Для измерения параметров шероховатости поверхности, а также для исследования микрогеометрии поверхностей. Применяется в ФГУП "ВНИИМС".
Default ALL-Pribors Device Photo
Для определения параметров топографии поверхности различных материалов с коэффициентом отражения 1...100 %. оптическим методом. Применяется в НИТУ "МИСиС".
Default ALL-Pribors Device Photo
Приборы портативные для измерений параметров шероховатости поверхности изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (на цилиндрических поверхностях; в отверстиях; на плоских поверхностях; в глубоких отверстиях малого диаме...