По ГЦИ СИ: НИЦПВ

Наименование Производитель Год Номер в реестре
Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-3  Россия  2012 49103-12 
Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-4  Россия  2012 49102-12 
Мера рельефная нанометрового диапазона с периодическим массивом нанообъектов ПМН-1  Россия  2012 49101-12 
Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-419  Беларусь  2011 48533-11 
Комплексы измерительные параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-219  Беларусь  2011 48532-11 
Тестер параметров цифровых интегральных микросхем ETС-868  Беларусь  2011 48530-11 
Комплекс измерительный параметров микросхем регуляторов напряжения ДМТ-401  Беларусь  2011 48452-11 
Тестер параметров цифровых интегральных микросхем ETС-780  Беларусь  2011 48451-11 
Спектрометр рентгеновский с волновой дисперсией INCA WAVE 700  Великобритания  2011 48390-11 
Микроскоп оптический AxioImager m2M  Германия  2011 48389-11 
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650  США  2011 48388-11 
Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый с системой динамического переноса IMS-4f  Франция  2011 48387-11 
Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-4f  Франция  2011 47061-11 
Генератор импульсный акустический ГИА1  Россия  2011 46973-11 
Преобразователи акустической эмиссии широкополосные GT300  Россия  2011 24254-03 
Система измерений геометрических параметров оптоэлектронная ОЭСИ  Россия  2010 45357-10 
Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D  США  2010 44976-10 
Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-7f  Франция  2010 44975-10 
Микроскопы сканирующие зондовые Solver Pro  Россия  2010 28666-05 
Микроскопы сканирующие зондовые Ntegra  Россия  2010 28664-05 
Фурье-спектрометры Vertex 70  Германия  2010 27691-04 
Фурье-спектрометры IFS  Германия  2010 16479-04 
Сейсмоприемники магнитоэлектрические СМ-3КВ  Россия  2009 42452-09 
Микроскоп электронный растровый Philips XL 40  Нидерланды  2009 42432-09 
Системы диагностики газопроводов автономные АСДГ-007М  Россия  2009 40598-09 
Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT  Россия  2009 40597-09 
ЭПР-спектрометры EMX  Германия  2009 27693-04 
ЭПР-спектрометры Elexsys  Германия  2009 27692-04 
ЭПР-спектрометры E-Scan  Германия  2009 21684-01 
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F  Япония  2008 39772-08 
Микроскоп атомно-силовой Dimension 3100  США  2008 39771-08 
Микроскоп электронный растровый JSM-7001F  Япония  2008 39763-08 
Системы комплексного диагностического мониторинга Лель-М/А-Line32D(DDM-M)/  Россия  2008 38265-08 
Микроскоп электронный растровый JSM-7401F  Япония  2008 37836-08 
Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47  Россия  2008 37834-08 
Комплексы акустико-эмиссионные измерительные Лель/A-Line 32D (DDM)/  Россия  2008 25330-03 
Комплексы акустико-эмиссионные информационно-измерительные A-Line 32 D  Россия  2008 17333-98 
Датчики скорости и расхода газового потока вихревые TX5921  Великобритания  2008 27316-04 
Системы управления измерительные TX2100  Великобритания  2008 27278-04 
Датчики давления TX6141  Великобритания  2008 27190-04 
Датчики температуры TX6273 и TX6274  Великобритания  2008 27189-04 
Вибровискозиметры SV-10  Япония  2008 26689-04 
ЯМР-релаксометры Minispec mq  Германия  2008 24484-03 
Фурье-спектрометры Tensor 27, Tensor 37  Германия  2008 24471-03 
Фурье-спектрометры MPA  Германия  2008 24470-03 
Преобразователи акустической эмиссии резонансные GT200 (GT200B)  Россия  2008 24253-08 
Преобразователи акустической эмиссии резонансные GT200  Россия  2008 24253-03 
Измерители температуры и давления жидкости и газа в кегах Keg-Monitor  Нидерланды  2008 22167-01 
Устройства для измерения содержания воздуха в бутылке и банке IAM  Нидерланды  2008 22166-01 
Приборы для измерений температуры точки росы DPT  Нидерланды  2008 22165-01 
1 2 3

По ГЦИ СИ