Микроскопы

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.

Перечень оборудования

Номер в реестре Фото Наименование
67838-17 Микроскоп атомно-силовой Keysight 5600LSМикроскоп атомно-силовой Keysight 5600LS 
67731-17 Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50 
67590-17 Микроскопы видеоизмерительные MarVision серии QM 300Микроскопы видеоизмерительные MarVision серии QM 300 
67329-17 Микроскопы видеоизмерительные ВММикроскопы видеоизмерительные ВМ 
67119-17 Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNCМикроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC 
67009-17 Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Nova NanoSEM 450Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Nova NanoSEM 450 
67005-17 Микроскопы сканирующие электронные EVO 18Микроскопы сканирующие электронные EVO 18 
66282-16 Микроскопы видеоизмерительные Venture мод. 2510, 3030, 2510-CNC, 3030-CNC и Venture Plus мод. VP-6460, VP-6490, VP-101040, VP-101540Микроскопы видеоизмерительные Venture мод. 2510, 3030, 2510-CNC, 3030-CNC и Venture Plus мод. VP-6460, VP-6490, VP-101040, VP-101540 
66097-16 ИК-фурье микроскопы Nicolet iN10 и Nicolet iN10MXИК-фурье микроскопы Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX 
64214-16 Микроскопы измерительные Nikon MMМикроскопы измерительные Nikon MM 
64204-16 Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 
64047-16 Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT, TITANIUMМикроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT, TITANIUM 
63408-16 Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340 
63062-16 Микроскоп электронный растровый JSM-6490LVМикроскоп электронный растровый JSM-6490LV 
62841-15 Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500MМикроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M 
62701-15 Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 
62122-15 Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов Verios 460 XНR SEMМикроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов Verios 460 XНR SEM 
61516-15 Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLINМикроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN 
60731-15 Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA)Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) 
60728-15 Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA)Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) 
60084-15 Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMPМикроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP 
59636-15 Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VPМикроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP 
32060-15 Микроскопы измерительные 176Микроскопы измерительные 176 
59264-14 Микроскопы измерительные XPressМикроскопы измерительные XPress 
58416-14 Микроскопы сканирующие электронные EVO MA10, EVO MA15, EVO MA25, EVO LS10, EVO LS15, EVO LS25, EVO HD15 MA, EVO HD25 MA, EVO HD15 LS, EVO HD25 LSМикроскопы сканирующие электронные EVO MA10, EVO MA15, EVO MA25, EVO LS10, EVO LS15, EVO LS25, EVO HD15 MA, EVO HD25 MA, EVO HD15 LS, EVO HD25 LS 
57829-14 Микроскопы электронные растровые настольные Phenom мод. Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProXМикроскопы электронные растровые настольные Phenom мод. Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX 
57712-14 Микроскопы видеоизмерительные MM2 GarantМикроскопы видеоизмерительные MM2 Garant 
57711-14 Микроскопы видеоизмерительные MM1 GarantМикроскопы видеоизмерительные MM1 Garant 
57150-14 Микроскоп инвертированный Axiovert 200MATМикроскоп инвертированный Axiovert 200MAT 
57061-14 Микроскопы инвертированные AXIO Observer.A1mМикроскопы инвертированные AXIO Observer.A1m 
56754-14 Микроскопы видеоизмерительные KIM-2010NМикроскопы видеоизмерительные KIM-2010N 
33832-14 Микроскопы измерительные VMMМикроскопы измерительные VMM 
55772-13 ИК-Фурье-микроскопы LUMOSИК-Фурье-микроскопы LUMOS 
55222-13 Микроанализатор рентгеновский с детектором в составе электронного микроскопа Aztech Advanced Inca Energy 350 (микроанализатор) Х-max 80 (детектор) Mira 3 LMU (микроскоп)Микроанализатор рентгеновский с детектором в составе электронного микроскопа Aztech Advanced Inca Energy 350 (микроанализатор) Х-max 80 (детектор) Mira 3 LMU (микроскоп) 
55118-13 Микроскоп сканирующий электронный EVO MA25Микроскоп сканирующий электронный EVO MA25 
54731-13 Микроскоп измерительный Nikon MM-800/LMМикроскоп измерительный Nikon MM-800/LM 
54262-13 Микроскопы электронные растровые настольные JCM-6000Микроскопы электронные растровые настольные JCM-6000 
53938-13 Микроскопы сканирующие электронные TESCAN серии VEGA, VELA, INDUSEM, TIMA, MIRA, LYRA, FERAМикроскопы сканирующие электронные TESCAN серии VEGA, VELA, INDUSEM, TIMA, MIRA, LYRA, FERA 
53251-13 Микроскопы электронные растровые JSM-6x10 (мод. JSM-6510, JSM-6510LV, JSM-6510LA, JSM-6510A, JSM-6610, JSM-6610LV, JSM-6610LA, JSM-6610A)Микроскопы электронные растровые JSM-6x10 (мод. JSM-6510, JSM-6510LV, JSM-6510LA, JSM-6510A, JSM-6610, JSM-6610LV, JSM-6610LA, JSM-6610A) 
39844-13 Микроскопы видеоизмерительные MM320Микроскопы видеоизмерительные MM320 
52316-12 Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LVМикроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV 
52315-12 Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CXМикроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX 
52096-12 Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30µМикрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30µ 
52088-12 Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400 
51413-12 Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100 
51170-12 Микроскоп оптический ультрафиолетового диапазона INM 300 DUVМикроскоп оптический ультрафиолетового диапазона INM 300 DUV 
50909-12 Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 
50908-12 Микроскоп электронный растровый JSM-6460LVМикроскоп электронный растровый JSM-6460LV 
50413-12 Микроскоп электронный растровый S-4800Микроскоп электронный растровый S-4800 
50159-12 Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100 

Производители

Наименование Рейтинг
ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва170
Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия137
Фирма "Mahr GmbH", Германия132
Фирма "TESA SA", Швейцария117
Фирма "Thermo Fisher Scientific", США111
Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия107
АООТ "Загорский оптико-механический завод" (ЗОМЗ), г.Сергиев Посад94
Фирма "Mitutoyo Corp.", Япония89
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург79
Фирма "Thermo Electron Corporation", США66
ПО "Уральский оптико-механический завод" (УОМЗ), г.Екатеринбург56
Фирма "Hoffmann GmbH Qualitatswerkzeuge", Германия48
Приборостроительный завод, г.Новосибирск37
Фирма "Nikon Geotecs Co., Ltd.", Япония34
Фирма "Oxford Instruments Analytical", Великобритания31
Приборостроительный завод, Украина, г.Изюм28
Компания "Olympus NDT, Inc.", США24
Фирма "Jeol", Япония20
Фирма "Hitachi", Япония20
Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды15
ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы13
Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия12
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва12
ОАО "Швабе - Оборона и Защита", г.Новосибирск11
Фирма "FEI Company", США11
Фирма "K.Walter", Германия7
Фирма "Veeco Instruments Inc.", США7
ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва6
ЗАО "Научные приборы", г.С.-Петербург5
Фирма "Leica", Германия2
Фирма "Graphische Technik und Handle Heimann GmbH", Германия2
Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия2
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк1
ООО "Научно-техническая компания" (НТК), г.Химки1
Фирма "TESCAN, a.s.", Чехия1
Компания "BBT" Sp.z.o.o., Польша0
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк0
Фирма "Applied Materials, Inc.", США0
Фирма "ARCS Precision Technology Co., Ltd.", Тайвань0
Фирма "Phenom-World BV.", Нидерланды0
Фирма "Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG", Германия0
Фирма "Vision Engineering Ltd.", Великобритания0
Фирма "Zygo Corporation", США0
ЗАО "Экран ФЭП", г.Новосибирск0
ООО "МЦ "Мастер-Сервис", г.С.-Петербург0
Компания "SEC Co., Ltd.", Корея0
Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", Германия0
Фирма "NT-MDT", г.Москва0
Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды0
Фирма "WITec GmbH", Германия0