Микроскоп измерительный TM-500
| Номер в ГРСИ РФ: | 25448-03 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Mitutoyo Corp.", Япония |
Скачать
| 25448-03: Описание типа СИ | Скачать | 184.4 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскоп измерительный TM-500 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий в продольном и поперечном направлениях до 50 мм.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 25448-03 |
| Наименование | Микроскоп измерительный |
| Модель | TM-500 |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2006 |
| Страна-производитель | Япония |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ УНИИМ |
| Адрес центра | 620000, г.Екатеринбург, ул.Красноармейская, 4 |
| Руководитель центра | Леонов Владислав Валентинович |
| Телефон | (8*343) 350-26-18 |
| Факс | 350-20-39 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 15712/1 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 06д от 27.04.06 п.127 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Mitutoyo Corp.", Япония
Япония
20-1, Sakado 1-Chome, Takatsu-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 213-0012, Japan Тел. 81(044)813-8230, факс 81(044)813-8231
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 37-233-2003 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 2 |
| Найдено поверителей | 10 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 2 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 21.04.2024 |
Поверители
Скачать
| 25448-03: Описание типа СИ | Скачать | 184.4 КБ |
Другие Микроскопы
Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов, наносимых на специальных пластиковых карточках на Пермской печатной фабрике Гознака.
27305-04
Checkmaster II WH 825/20 Микроскоп
Фирма "Graphische Technik und Handle Heimann GmbH", Германия
Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов на Пермской печатной фабрике Гознака.
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
28664-10
Ntegra SPECTRA, Ntegra PRIMA, Ntegra VITA, Ntegra THERMA, Ntegra AURA, Ntegra MAXIMUS, Ntegra SOLARIS, Ntegra SOLARIS Duo, Ntegra TOMO, Ntegra LIFE Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...