25542-03: VIDEOMET-III Микроскоп - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп VIDEOMET-III

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 25542-03
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "K.Walter", Германия
Скачать
25542-03: Описание типа СИ Скачать 178.5 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп VIDEOMET-III поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов, наносимых на специальных пластиковых карточках на Пермской печатной фабрике Гознака.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 25542-03
Наименование Микроскоп
Модель VIDEOMET-III
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2003
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ УНИИМ
Адрес центра 620000, г.Екатеринбург, ул.Красноармейская, 4
Руководитель центра Леонов Владислав Валентинович
Телефон (8*343) 350-26-18
Факс 350-20-39
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 15809
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 09 от 26.08.03 п.60
Производитель / Заявитель

Фирма "K.Walter", Германия

 Германия 

D-8000 MUNCHEN 70, Plinganserstrasse 22, тел. 089/7 20 65-0, телекс 5 212 263

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП 38-233-2003
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Актуальность информации 24.03.2024

Поверители

Скачать

25542-03: Описание типа СИ Скачать 178.5 КБ

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
27305-04
Checkmaster II WH 825/20 Микроскоп
Фирма "Graphische Technik und Handle Heimann GmbH", Германия
Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов на Пермской печатной фабрике Гознака.
Default ALL-Pribors Device Photo
28664-05
Ntegra Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
28665-05
NanoEducator Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
Default ALL-Pribors Device Photo
28666-05
Solver Pro Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...