Анализаторы фрагментов микроструктуры твердых тел
| Номер в ГРСИ РФ: | 27438-10 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | ООО "СИАМС", г.Екатеринбург |
| 27438-10: Описание типа СИ | Скачать | 150.6 КБ |
Для измерений параметров микроструктуры твердых тел в угольной, металлургической, химической и др. отраслях промышленности.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 27438-10 |
| Наименование | Анализаторы фрагментов микроструктуры твердых тел |
| Технические условия на выпуск | ТУ 4317-001-12285114-2004 с изменениями №21 и №22 |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2010 |
| Страна-производитель | Россия |
| Примечание | Взамен № 27438-09 |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ Уральского ЦСМ |
| Адрес центра | 620000, г.Екатеринбург, ул.Красноармейская, 2А |
| Руководитель центра | Сурсяков Валентин Николаевич |
| Телефон | (8*343) 350-25-83 |
| Факс | 350-40-81 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.08.2015 |
| Номер сертификата | 40862 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 03д2 от 29.07.10 п.553 |
Производитель / Заявитель
ООО "СИАМС", г.Екатеринбург
Россия
620072, ул.Высоцкого, 6-425, тел./факс (3432) 75-94-07, 75-94-51; 620078, ул.Коминтерна, д.16. оф.604 Тел./факс (343) 3790034, 3790035, www.siams.com, E-mail: info@siams.com
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 52-224-2009 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 944 |
| Найдено поверителей | 35 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 937 (99%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 7 (1%) |
| Актуальность информации | 26.04.2024 |
Поверители
Скачать
| 27438-10: Описание типа СИ | Скачать | 150.6 КБ |
Описание типа
Назначение
Анализаторы фрагментов микроструктуры твердых тел (далее - анализаторы) предназначены для измерения размеров фрагментов микроструктуры твердых тел.
Описание
Принцип работы анализатора основан на прямом измерении линейных размеров фрагментов микроструктуры твердых тел.
Анализатор представляет собой измерительную установку, состоящую из устройства для создания изображения, устройства преобразования изображения в цифровую форму, устройства передачи изображения в компьютер и управляющей программы, с помощью которой осуществляется анализ изображения, включающий в себя подготовку изображения к измерениям, измерение параметров фрагментов и преобразование результатов измерений в параметры микроструктуры исследуемых объектов.
Анализатор применяется для исследования изображений микроструктуры твердых тел. Используются различные способы обработки, анализа и измерения микроструктуры в зависимости от задачи и оптических свойств исследуемых объектов. В результате анализатор выдает набор параметров исследуемой микроструктуры, ограниченный рамками измерительной задачи.
Фотография внешнего вида анализатора представлены на рисунке 1. Место нанесения знака поверки указано стрелкой.
Рисунок 1 - Внешний вид анализатора
Программное обеспечение
Программное обеспечение (далее - ПО) анализатора заложено в микропроцессоре и защищено от доступа и изменения.
Основные функции метрологически значимой части ПО: хранение градуировочных зависимостей, создание списка масштабов изображений (определение размера пикселя цифрового изображения, полученного при фиксированном состоянии системы ввода, последующий пересчет количества пикселей в значения длин, площадей, углов). Обновление метрологически значимой части программного обеспечения в процессе эксплуатации не предусмотрено.
Основные функции метрологически незначимой части ПО: организация справочников фазовых компонент, подготовка изображения к измерениям (обрезка краев, морфологическая обработка и т.п.). Обновление метрологически незначимой части программного обеспечения в процессе эксплуатации возможно.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения (ПО)
|
Идентификационные данные |
Значение |
|
Идентификационное наименование ПО |
simagis-metrology.j ar |
|
Номер версии ПО |
- |
|
Цифровой идентификатор ПО |
a6d30d709f8f0ec3dc473 92ac903df86cb65694 b88a7b6fc47b4be968272dbeb |
|
Другие идентификационные данные |
- |
Конструкция анализаторов исключает возможность несанкционированного влияния на ПО и измерительную информацию.
Уровень защиты ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» по Р 50.2.077-2014.
Технические характеристики
Таблица 2
|
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
|
Диапазон измерений длины, мкм |
от 0,5 до 2000 |
|
Предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности (с учетом вклада программного обеспечения анализатора), %: - при увеличении до х500 включительно - при увеличении свыше х500 |
0,2 0,4 |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности (с учетом вклада программного обеспечения анализатора), % - при увеличении до х500 включительно - при увеличении свыше х500 |
± 0,25 ± 0,65 |
|
Параметры электропитания: - напряжение, В - частота переменного тока, Гц - потребляемая мощность, В • А, не более |
220 ± 20 50 ± 1 400 |
|
Габаритные размеры контроллеров, мм (ДхШ*В), не более: |
2500 х 700 х 700 |
|
Масса, кг, не более |
70 |
|
Условия эксплуатации: - температура окружающего воздуха, °С - относительная влажность окружающего воздуха, % |
от 15 до 40 до 80 |
|
Средняя наработка на отказ, ч, не менее |
2000 |
|
Средний срок службы, лет, не менее |
5 |
Знак утверждения типа
наносится на боковую панель корпуса анализатора методом наклейки и на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
Таблица 3
|
Наименование |
Количество, шт |
|
Микроскоп оптический (в комплекте: столик предметный; переходник (система оцифровки - микроскоп); блок питания лампы микроскопа; комплект объективов; инструкция по эксплуатации) |
1 |
|
Система оцифровки изображения в комплекте с системой цифрового видеовхода |
1 |
|
Объект-микрометр ОМ-О (длина шкалы 1,0000±0,0005 мм; абсолютная погрешность (±0,0001 мм) |
1 |
|
Мера длины штриховая высокоточная МТТТВ-О (длина шкалы в диапазоне от 0 до 80 мм: 80±0,004 мм, абс. погрешность ± 1 мкм; длина шкалы в диапазоне от 0 до 30 мм: 30±0,0009 мм, абс. погрешность ± 0,2 мкм) |
1 |
|
Программное обеспечение |
1 |
|
Персональный компьютер |
1 |
|
Руководство по эксплуатации РЭ 4317-001 -12285114-2009 |
1 |
|
Паспорт ПС 4 317 - 0 01-12 2 8 5114 - 2009 |
1 |
|
Методика поверки МП 52-224-2009 с изменением № 1 |
1 |
Примечание к таблице - мера длины штриховая высокоточная МТТТВ-О поставляется по отдельному заказу.
Поверка
осуществляется по документу МП 52-224-2009 «ГСИ. Анализаторы фрагментов микроструктуры твердых тел. Методика поверки», утвержденному ФГУП «УНИИМ» в декабре 2009 г. с изменением № 1, утвержденным ФГУП «УНИИМ» в июне 2015 г.
Эталонное средство измерений, используемое при поверке:
- объект-микрометр ОМ-О (длина шкалы 1,0000±0,0005 мм; абсолютная погрешность (± 0,0001 мм);
- меры длины штриховые высокоточные МТВ-О (длина шкалы в диапазоне 0-80 мм: 80±0,004 мм, абс. погрешность ± 1 мкм; длина шкалы в диапазоне 0-30 мм: 30±0,0009 мм, абс. погрешность ± 0,2 мкм;).
Сведения о методах измерений
Методика измерений представлена в руководстве по эксплуатации
Нормативные документы
ТУ 4317-001-12285114-2004 Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел.
Технические условия" с изменениями № 1 и № 2.
Смотрите также
