Дифрактометры рентгеновские монокристальные KAPPA APEX

Применение

Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.

ГРСИ
№33868-07
Скачать:
PDF33868-07: Описание типа СИ
Размер файла: 210 КБ
Номер по Госреестру33868-07
Технические условия на выпусктех.документация фирмы
Класс СИ31.01
Год регистрации2007
Информация о поверкеМП ГНТЦ "Инверсия"
Периодичность поверки1 год
Страна-производитель США 

Информация о центре сертификации СИ

Центр сертификацииГЦИ СИ ОАО ФНТЦ "Инверсия"
Адрес центра107031, г.Москва, ул.Рождественка, 27
Руководитель центраПункевич Борис Семенович
Факс208-49-62

Информация о сертификате

Срок действия сертификата01.03.2012
Номер сертификата26773
Тип сертификата (C - серия/E - партия)С
Дата протокола02 от 15.02.07 п.09

Производитель

Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия

Данные по реестру:

ПроизводительФирма "Bruker AXS Inc.", США
Адрес5465 East Cheryl Parkway, MADISON, Wi 53711, USA
Отправить заявку

Другие Дифрактометры

Нет изображения
33867-07
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.
Производитель: Фирма "Bruker AXS Inc.", США
Нет изображения
33866-07
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.
Производитель: Фирма "Bruker AXS Inc.", США
Дифрактометры настольные рентгеновские ДНР "Дифрей"
35586-07
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца с целью определения его фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические, металлургические, машиностроительные, строительные; фармацевтика; криминалистика; научно-исследовательские и заводские лаборатории.
Производитель: ОАО "Научные приборы", г.С.-Петербург
Нет изображения
31927-11
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Производитель: НПП "Буревестник", ОАО, г.С.-Петербург
Нет изображения
31927-06
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных институтов в различных отраслях науки и производства (материаловедение, черная и цветная металлургия, машиностроение, минералогия, кристаллография, химия, фармакология, криминалистика и другие).
Производитель: НПП "Буревестник", ОАО, г.С.-Петербург
Перейти в раздел "Дифрактометры"