41096-09: ML-7000 Микроскоп измерительный металлургический - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп измерительный металлургический ML-7000

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 41096-09
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "MEIJI TECHNO CO. Ltd.", Япония
Скачать
41096-09: Описание типа СИ Скачать 111.3 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп измерительный металлургический ML-7000 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм. Область применения: предприятие ОАО "Сибнефть-ОНПЗ".

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 41096-09
Наименование Микроскоп измерительный металлургический
Модель ML-7000
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2009
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ УНИИМ
Адрес центра 620000, г.Екатеринбург, ул.Красноармейская, 4
Руководитель центра Леонов Владислав Валентинович
Телефон (8*343) 350-26-18
Факс 350-20-39
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 35943
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 08д2 от 03.08.09 п.29
Производитель / Заявитель

Фирма "MEIJI TECHNO CO. Ltd.", Япония

 Япония 

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП 03-233-2009
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 4
Найдено поверителей 3
Успешных поверок (СИ пригодно) 4 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 14.04.2024

Поверители

Скачать

41096-09: Описание типа СИ Скачать 111.3 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп измерительный металлургический ML-7000 (далее микроскоп) предназначен для прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм.

Область применения: предприятие ОАО «Сибнефть-ОНПЗ».

Описание

Принцип действия микроскопа состоит в увеличении измеряемого объекта и передаче измеряемого размера объекта перемещению наконечника электронного микрометра, с помощью которого объект вместе с предметным столом микроскопа перемещают от одного края контура измеряемого размера до другого. Перемещение стола контролируется наблюдателем через окуляр визирного микроскопа, имеющего вертикальную отсчетную нить, с которой последовательно совмещают края измеряемого контура изделия.

Микроскоп состоит из основания, на котором смонтирован предметный стол с электронным микрометром, колонки с визирным микроскопом и самого визирного микроскопа. Визирный микроскоп состоит из объектива, тубуса и окуляра.

Предметный стол перемещается вверх и вниз и таким образом позволяет фокусировать изображение поверхности измеряемого изделия в глаз наблюдателя. Стол освещается специальной лампой через микроскоп и может перемещаться с помощью микровинта электронного микрометра в продольном направлении.

Индикация показаний производится на жидкокристаллическом индикаторе микрометра.

ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ И МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Наименование характеристики

Значение характеристик

Дискретность отсчета, мм

0,001

Диапазон измерений, мм

0-25

Пределы допускаемой абсолютной погрешности микроскопа при измерении линейных размеров, мм

±0,005

Питание от сети переменного тока напряжением, В частотой, Гц

220±10 50±0,5

Г абаритные размеры (длинахщиринахвысота), мм:

250x300x400

Масса, кг

5

Условия эксплуатации: температура, °C атмосферное давление, кПа относительная влажность, %

20±5 от 84 до 106,7 от 30 до 80

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится методом наклейки на задней стороне микроскопа и на титульном листе руководства по эксплуатации.

Комплектность

В комплект поставки прибора входят следующие составляющие:

Обозначение

Наименование

Кол-во

Основание с предметным столом, колонкой и визирным микроскопом

1

Объектив и окуляр с общим увеличением 100х

1

Электронный микрометр

2

Блок освещения

1

Руководство по эксплуатации

1

МП 03-233-2009

Методика поверки

1

Поверка

Поверка производится в соответствии с нормативным документом «ГСИ. Микроскоп измерительный металлургический ML-7000. Методика поверки» МП 03-233-2009, утвержденным ФГУП УНИИМ в июне 2009 г.

Основные средства поверки:

- Шкала стеклянная 3-го разряда МИ 2060-90.

Межповерочный интервал - один год.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы «MEIJI TECHNO СО., LTD» (Япония).

Заключение

Тип «Микроскоп измерительный металлургический ML-7000», заводской № 702189, утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, и метрологически обеспечен в эксплуатации.

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
41600-09
Motic B1-223ASC Микроскоп оптический
Фирма "BBT" Sp.z.o.o. Польша
Для измерения количества и размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел в соответствии с ГОСТ ИСО 4407-2006 "Определение загрязненности жидкости методом счета частиц под микроскопом". Область применения: контроль промышл...
Default ALL-Pribors Device Photo
41675-09
НаноСкан-3Д Микроскопы сканирующие зондовые
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...
Default ALL-Pribors Device Photo
41696-09
WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400 Микроскопы измерительные
Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия
Для измерения геометрических параметров: линейных и угловых размеров различных деталей и объектов. Область применения - в автомобильной промышленности, в металлообработке, в обработке пластмасс, в авиационной промышленности или в производстве электри...
Default ALL-Pribors Device Photo
41749-09
NanoSEM-3D Микроскоп сканирующий электронный
Фирма "Applied Materials, Inc.", США
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин), а также при проведении фундаментальных...