62701-15: Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 Микроскопы световые инвертированные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7

Номер в ГРСИ РФ: 62701-15
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", Германия
Скачать
62701-15: Описание типа СИ Скачать 160.3 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm, Axio Observer.Dlm, Axio Observer.Zlm, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее по тексту -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур, а так же служат для исследования в отраженном и проходящем свете крупных и тяжелых деталей в металлографии, а именно: исследование материалов и деталей, контроль этапов обработки, определение поверхностных свойств деталей, глубин микронеровност

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 62701-15
Наименование Микроскопы световые инвертированные
Модель Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7
Срок свидетельства (Или заводской номер) 16.12.2020
Производитель / Заявитель

Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", Германия

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 26
Найдено поверителей 9
Успешных поверок (СИ пригодно) 26 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 24.03.2024

Поверители

Скачать

62701-15: Описание типа СИ Скачать 160.3 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее по тексту -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур, а так же служат для исследования в отраженном и проходящем свете крупных и тяжелых деталей в металлографии, а именно: исследование материалов и деталей, контроль этапов обработки, определение поверхностных свойств деталей, глубин микронеровностей, толщины слоев, определение типов структур, исследование зон термического влияния сварных соединений, проверка глубины закалки.

Описание

Принцип действия микроскопов основан на увеличении изображения объекта оптической системой. Объект, расположенный на предметном столике, освещается осветителем с помощью зеркала и конденсора. Измерения выполняются в проходящем и отраженном свете. Кратность увеличения пропорциональна увеличению объектива и окуляра. Количество объективов зависит от комплекта поставки. Объективы расположены в револьверном устройстве. Наблюдение исследуемого объекта осуществляется оператором через окуляры микроскопа. Регистрация изображения выполняется цифровой камерой с ПЗС-матрицей, оптически сопряженной с микроскопом. Запись и обработка результатов измерений производится на персональном компьютере с помощью программного обеспечения.

Микроскопы позволяют проводить исследования в отраженном свете методами светлого поля, темного поля, дифференциального интерференционного контраста (DIC), дифференциального интерференционного контраста с круговой поляризацией (C-DIC), поляризационного контраста, флуоресценции.

Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm и Axio Observer 3 -оснащены ручными штативами, Axio Observer.Dlm и Axio Observer 5 - кодированными штативами, Axio Observer.Z1m и Axio Observer 7 - полностью моторизованными штативами.

Axio

Observer.Dlm

Axio Observer 5

Axio Observer.Alm

Axio Observer 3

Axio Observer.Zlm

Axio Observer 7

Рисунок 1 - Общий вид микроскопов Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7

Рисунок 2 - Места нанесения маркировки на микроскоп

Программное обеспечение

Микроскопы имеют автономное программное обеспечение, которое используется для обработки результатов измерений.

Идентификационные данные метрологически значимой части программного обеспечения приведены в таблице 1.

Таблица 1

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

ZEN 2012

Номер   версии   (идентификационный

номер) ПО

1.1.2.0 и выше

Цифровой идентификатор ПО

C56430DD2E823D6C8A6B22307B0FAA97

Другие идентификационные данные, если имеются

MD5

Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014 «средний».

Технические характеристики

Таблица 2

Наименование характеристики

Значение характеристики

1

2

Диапазон измерений линейных размеров по осям X и Y, мкм

3 - 1000

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения линейных размеров, мкм:

- при увеличении объектива 1,25 крат

- при увеличении объектива 2,5; 5; 10; 20 крат

- при увеличении объектива 50; 100 крат

± 12 ± 9 ± 0,6

Номинальное напряжение сети питания, В

(100 - 127)± 10 % или

(200 - 240)± 10 %

Масса, кг, не более:

Axio Observer.A1m, Axio Observer 3

27

Axio Observer.Dlm, Axio Observer 5

30

Axio Observer.Zlm, Axio Observer 7

36

Габаритные размеры, мм, не более

295x805x707

Условия эксплуатации:

температура окружающего воздуха, °С

от 5 до 40

относительная влажность воздуха при 25°С, <%

75

избыточное давление воздуха в помещении относительно атмосферного давления, Па

от 8 до 10,6

Таблица 3

Тип объектива

Увеличение/ Числ. апертура

Рабочее расстояние, мм

Objective EC Epiplan 5x/0.13 HD M27

5х/0,13

11,8

Objective EC Epiplan 10x/0.25 HD M27

10х/0,25

11,0

Objective EC Epiplan 20x/0.4 HD M27

20х/0,4

3,2

Objective EC Epiplan 40x/0.6 HD M27

40х/0,6

2,2

Objective EC Epiplan 50x/0.75 HD M27

50х/0,75

1,0

Objective EC Epiplan 100x/0.85 HD M27

100х/0,85

0,87

Objective EC Epiplan-Neofluar 1.25x/0.03 M27

1,25х/0,03

4,0

Objective EC Epiplan-Neofluar 2.5x/0.06 HD M27

2,5х/0,06

15,1

Objective EC Epiplan-Neofluar 5x/0.13 HD DIC M27

5х/0,13

14,5

Objective EC Epiplan-Neofluar 10x/0.25 HD DIC M27

10х/0,25

9,0

Objective EC Epiplan-Neofluar 20x/0.50 HD DIC M27

20х/0,50

2,2

Objective EC Epiplan-Neofluar 50x/0.80 HD DIC M27

50х/0,80

0,6

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом наклейки и на заднюю панель корпуса микроскопа методом наклеивания.

Комплектность

Таблица 4

Наименование

Количество, шт

1

2

Микроскоп    световой    инвертированный    Axio    Observer.A1m/

Axio Observer.D1m/ Axio Observer.Z1m/ Axio Observer 3/ Axio Observer 5/ Axio Observer 7

1

Компьютер с сетевым источником питания

1

Дисплей

1

Клавиатура

1

Манипулятор «мышь»

1

Руководство по эксплуатации

1

Методика поверки

1

Поверка

осуществляется по документу МП 024.M1-15 «ГСИ. Микроскопы световые инвертированные AXIO Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 05 мая 2015 г.

Основные средства поверки:

1 Объект-микрометр ОМО (ГР СИ № 590-63)

Основные метрологические характеристики:

диапазон измерений - до 1 мм

пределы основной погрешности измерений ±3 мкм

2 Мера периода и высоты линейная TGZ1 (ГР СИ №41678-09)

Основные метрологические характеристики:

номинальное значение шага периодической структуры меры - 3,00 мкм

допустимое отклонение от номинального значения шага периодической структуры не более ± 0,01 мкм

Сведения о методах измерений

«Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7. Руководство по эксплуатации», раздел 3.

Нормативные документы

ГОСТ Р 8.763-2011 «Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10’9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм»

Другие Микроскопы

Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-во...
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотел...
Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (модификации JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического...
60084-15
Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды
Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров объектов.