По тэгам: Электронные лампы и полупроводниковые приборы

Наименование Производитель Год Номер в реестре
Установки для измерения электрических параметров ИС и радиокомпонентов Гамма  Армения  2014 29074-14 
Анализаторы цепей векторные R&S ZNC3, ZNB4, ZNB8  Германия  2012 49105-12 
Аппараты испытания диэлектриков АИД-70М  Россия  2012 34031-12 
Установки для измерения тангенса угла диэлектрических потерь трансформаторного масла автоматизированные Тангенс-3М  Украина  2011 48725-11 
Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-419  Беларусь  2011 48533-11 
Комплексы измерительные параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-219  Беларусь  2011 48532-11 
Тестер параметров цифровых интегральных микросхем ETС-868  Беларусь  2011 48530-11 
Тестер параметров цифровых интегральных микросхем ETС-780  Беларусь  2011 48451-11 
Анализаторы электрических цепей векторные ZVA50, ZVA67, ZVA80  Германия  2011 48355-11 
Анализаторы цепей векторные E5061B  Малайзия  2011 47220-11 
Анализаторы параметров цепей векторные N9923A  Малайзия  2011 47219-11 
Анализаторы цепей векторные Р4М-18, опции Р4М-18-20А, Р4М-18-ДПА, Р4М-18-ДМА и Р4М-18-СПА  Россия  2011 47185-11 
Анализаторы электрических цепей векторные Agilent E5071C с опциями 2К5, 4К5, 260, 460, 465, 2D5, 4D5  Малайзия  2010 45997-10 
Установка для измерения параметров полупроводниковых материалов на эффекте Холла HMS-3000  Корея  2010 45517-10 
Измерители тангенса угла потерь и удельного сопротивления диэлектрика DTL C  Австрия  2010 45244-10 
Измерители электрической прочности масла OTS  Великобритания  2010 44214-10 
Анализатор цепей скалярный 8757D  США  2010 43799-10 
Комплекс измерительный параметров аналоговых микросхем и устройств ДМТ-319  Беларусь  2010 43669-10 
Измерители параметров полупроводниковых приборов 4155С, 4156С  Япония  2010 39905-10 
Аппараты испытания диэлектриков АИД-70М  Россия  2010 34031-08 
Анализаторы электрических цепей векторные / анализаторы спектра ZVL13  Германия  2009 43232-09 
Измерители статических параметров микросхем КВК.СИЦ.Э-32  Россия  2009 40964-09 
Измерители параметров полупроводниковых приборов B1500A с модулями B1510A, B1511A, B1517A, E5288A  Малайзия  2009 39903-08 
Анализаторы электрических цепей векторные Advantest R3765CG  Япония  2009 36043-07 
Измерители параметров полупроводниковых приборов 4155C, 4156C  Малайзия  2009 39905-08 
Анализатор электрических цепей векторный Anritsu MS4624B  Япония  2008 38518-08 
Анализаторы электрических цепей векторные PNA-L N5230A  США  2008 37698-08 
Анализаторы цепей PNA E8362B, E8363B  США  2008 37595-08 
Анализаторы цепей векторные E8362B  США  2008 37280-08 
Анализаторы электрических цепей векторные Agilent Е5071С  Малайзия  2008 37231-08 
Анализаторы цепей векторные N5242A  Малайзия  2008 37230-08 
Анализаторы цепей векторные N5230А/С  Малайзия  2008 37229-08 
Анализаторы цепей векторные E8361A/C, E8362B/C, E8363B/C, E8364B/C  Малайзия  2008 37176-08 
Векторные анализаторы электрических цепей ZVA 8, ZVA 24, ZVA 40  Германия  2008 37174-08 
Анализаторы электрических цепей векторные/ анализаторы спектра ZVL3, ZVL6  Германия  2008 37173-08 
Анализаторы параметров цепей векторные MS2024A, MS2026A, MS2034A, MS2036A  Япония  2008 37094-08 
Анализатор цепей векторный E8363B  США  2008 36801-08 
Анализатор цепей векторный N5230A  США  2008 36800-08 
Комплексы измерительные параметров активных и пассивных электронных элементов ЭРИ ДМТ-220  Россия  2008 35430-07 
Измеритель S-параметров Agilent 85046A  США  2008 33133-06 
Тестеры параметров цифровых интегральных микросхем ETC-780  Россия  2008 26595-04 
Аппараты испытания диэлектриков АИД-70М  Россия  2008 34031-07 
Приемники измерительные панорамные Сота  Россия  2007 36327-07 
Измеритель параметров многополюсников Agilent Е5062А  Малайзия  2007 36314-07 
Измерители иммитанса цифровые AM-3001  Корея  2007 36304-07 
Анализатор электрических цепей векторный Anritsu MS4630B  Япония  2007 36044-07 
Анализатор цепей PNA E8363B  США  2007 36042-07 
Система для измерений электрических параметров полупроводниковых приборов NI PXI 1033 с модулями 4070, 4071, 4110  США  2007 35884-07 
Измерители удельного сопротивления кремния Рометр  Россия  2007 35567-07 
Измерители удельной электрической проводимости вихретоковые ВЭ-47НЦ, ВЭ-57НЦ  Россия  2007 35438-07 
1 2 3 4

По тэгам